Thermo Scientific K-Alpha (XPS)

Σχεδιασμένο για παραγωγικότητα, από την έρευνα στη ρουτίνα

Το φασματόμετρο K-Alpha προσφέρει πολύ βελτιωμένη φασματοσκοπική απόδοση. Αυτό το άλμα προς τα εμπρός έχει ως αποτέλεσμα ταχύτερους χρόνους ανάλυσης, βελτιωμένη ανίχνευση στοιχείων και δυνατότητα απόκτησης δεδομένων σε υψηλότερη ανάλυση, αποδίδοντας καλύτερη αναγνώριση χημικής κατάστασης.

Οι αναλυτικές επιλογές περιλαμβάνουν μια μονάδα μεταφοράς κενού για τη μεταφορά δειγμάτων ευαίσθητων στον αέρα από ένα ντουλαπάκι στο σύστημα και τη μονάδα κλίσης για τη συλλογή δεδομένων ARXPS. Εξοπλισμένο με το σύστημα δεδομένων Thermo Scientific™ Avantage, το πλήρες σύστημα λογισμικού ανάλυσης επιφάνειας, το K-Alpha διαθέτει μια σειρά από χαρακτηριστικά λογισμικού που έχουν σχεδιαστεί για τη βελτιστοποίηση της ερμηνείας δεδομένων, της αναφοράς δεδομένων και της χρηστικότητας. Το σύστημα K-Alpha XPS ικανοποιεί τις απαιτήσεις τόσο των έμπειρων αναλυτών XPS όσο και των νεοεισερχόμενων στην τεχνική, συνδυάζοντας υψηλής απόδοσης, μονοχρωματικά XPS και προφίλ βάθους sputter, με έξυπνο αυτοματισμό και διαισθητικό έλεγχο.

Ισχυρές επιδόσεις

• Φασματοσκοπία επιλέξιμης περιοχής
• Προφίλ βάθους Sputter
• Μικρο-εστιασμένος μονόχρωμος
• Απόκτηση στιγμιότυπου
• Φασματοσκοπία χημικής κατάστασης υψηλής ευκρίνειας
• Ανάλυση μονωτή
• Ποσοτική χημική απεικόνιση

Απαράμιλλη ευκολία χρήσης

• Απόκτηση — φάσματα, εικόνες, προφίλ, σαρώσεις γραμμής
• Ερμηνεία — προσδιορισμός στοιχειακής και χημικής κατάστασης
• Επεξεργασία — Ποσοτικοποίηση, προσαρμογή αιχμής, προβολή προφίλ σε πραγματικό χρόνο, χειρισμός εικόνας φάσματος, PCA, ανάλυση φάσης, TFA, NLLSF, αφαίρεση PSF, επικαλύψεις εικόνας οπτικών/XPS
• Αναφορά — αυτόματη δημιουργία αναφορών με απλή εξαγωγή σε άλλα πακέτα λογισμικού
• Έλεγχος — όλο το υλικό που ελέγχεται από τη διεπαφή λογισμικού Avantage
• Avantage Indexer — διαχείριση αρχείων δεδομένων
• Καταγραφή διαδρομής ελέγχου
• Καταγραφή απόδοσης συστήματος
• Βαθμονόμηση κατ' απαίτηση
• Πλήρης απομακρυσμένη λειτουργία

Βασικά χαρακτηριστικά

• Αναλυτής — Ημισφαιρικός αναλυτής διπλής εστίασης 180° με ανιχνευτή 128 καναλιών
• Πηγή ακτίνων Χ — Μικροεστιασμένος μονοχρωμάτης Al Ka με μεταβλητό μέγεθος κηλίδας
• Ion Gun — Εύρος ενέργειας 100-4000 eV
• Αντιστάθμιση φόρτισης — Πηγή διπλής δέσμης
• Μέγεθος δείγματος — στάδιο δειγματοληψίας 4 αξόνων, περιοχή δείγματος 60 x 60 mm, μέγιστο πάχος δείγματος 20 mm
• Επιλογές — Μονάδα μεταφοράς κενού, μονάδα κλίσης για ARXPS, μονάδα πόλωσης δείγματος