FIB – SEM DB500

Το FIB-SEM BD500 είναι η νεότερη προσθήκη στη σειρά προϊόντων SEM της Ciqtek, χρησιμοποιώντας μια δέσμη ιόντων εστιασμένης (FIB) για την τροποποίηση ενός δείγματος και ένα ηλεκτρονικό μικροσκόπιο σάρωσης FEG (SEM) για την απεικόνιση του.

Κατηγορία: Μικροσκοπία διπλής δέσμης FIB-SEM Ετικέτες: ΨΕΜΑΤΑΚΙ, διπλή δέσμη, CIQTEK, SEM, ηλεκτρονικό μικροσκόπιο σάρωσης

Περιγραφή

Το FIB-SEM έχει πολλές εφαρμογές, όπως:

Ανάλυση, εναπόθεση και αφαίρεση υλικών σε μια συγκεκριμένη τοποθεσία, ειδικά για ημιαγωγούς και επιστήμη υλικών.
Κατασκευή λεπτών και υψηλής ποιότητας δειγμάτων για ηλεκτρονική μικροσκοπία μετάδοσης (TEM) από διαφορετικά είδη υλικών.
Οπτικοποίηση και χαρακτηρισμός δομών κάτω από την επιφάνεια και σε 3D με εναλλασσόμενη κοπή FIB και απεικόνιση SEM.
Δημιουργία και σχεδιασμός συσκευών σε νανοκλίμακα με σκάλισμα και προσθήκη FIB.

DB500-FIB-SEM (1)

FIB – SEM DB500

Σχετικά προϊόντα

Σύνδεση